Carbon contamination in scanning transmission electron microscopy and its impact on phase-plate applications

Par Conseil national de recherches du Canada

DOITrouver le DOI : https://doi.org/10.1016/j.micron.2017.02.002
AuteurRechercher : ; Rechercher : ; Rechercher : ; Rechercher : ; Rechercher : ; Rechercher : 1
Affiliation
  1. Conseil national de recherches du Canada. Institut national de nanotechnologie
FormatTexte, Article
Sujetscanning transmission electron microscopy; contamination; electron-beam induced charging; phase plate; graphitized carbon; thin film
Résumé
Date de publication
Maison d’éditionElsevier
Dans
Langueanglais
Publications évaluées par des pairsOui
Numéro NPARC23002391
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Identificateur de l’enregistrementfabed280-81e3-4aa5-a0c5-04ea72b8d784
Enregistrement créé2017-10-26
Enregistrement modifié2020-03-16
Date de modification :