Interface structure of Ge/Si superlattices determined by X-Ray absorption fine structure

Par Conseil national de recherches du Canada

DOITrouver le DOI : https://doi.org/10.1557/PROC-220-253
AuteurRechercher : ; Rechercher : ; Rechercher : ; Rechercher : 1; Rechercher : 1; Rechercher : 1
Affiliation
  1. Conseil national de recherches du Canada. Institut des sciences des microstructures du CNRC
FormatTexte, Article
Résumé
Date de publication
Maison d’éditionCambridge University Press
Dans
Langueanglais
Publications évaluées par des pairsOui
Numéro NPARC23001770
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Identificateur de l’enregistrementd5991414-c625-4b87-b871-77fff7517bde
Enregistrement créé2017-03-31
Enregistrement modifié2020-03-17
Date de modification :