Index of refraction and strain induced birefringence of pseudomorphic Si1−xGex

Par Conseil national de recherches du Canada

DOITrouver le DOI : https://doi.org/10.1557/PROC-486-101
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Affiliation
  1. Conseil national de recherches du Canada. Institut des sciences des microstructures du CNRC
FormatTexte, Article
Résumé
Date de publication
Dans
Langueanglais
Publications évaluées par des pairsOui
Numéro NPARC21277184
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Identificateur de l’enregistrement9ca80426-651f-4ddf-a2ae-d37e3e915612
Enregistrement créé2016-01-05
Enregistrement modifié2020-03-20
Date de modification :