Thermal expansion coefficient measurement from electron diffraction of amorphous films in a TEM

Par Conseil national de recherches du Canada

DOITrouver le DOI : https://doi.org/10.1016/j.ultramic.2018.02.003
AuteurRechercher : 1; Rechercher : 1; Rechercher : 1; Rechercher :
Affiliation
  1. Conseil national de recherches du Canada. Nanotechnologie
FormatTexte, Article
Résumé
Date de publication
Maison d’éditionElsevier
Dans
Langueanglais
Publications évaluées par des pairsOui
Numéro NPARC23002830
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Identificateur de l’enregistrement6d816a79-9d25-4897-8f88-71d8cb436176
Enregistrement créé2018-03-08
Enregistrement modifié2020-03-16
Date de modification :