Versatile approach for frequency resolved wavefront characterization

Par Conseil national de recherches du Canada

DOITrouver le DOI : https://doi.org/10.1117/12.886304
AuteurRechercher : 1; Rechercher : ; Rechercher : 1; Rechercher : 1; Rechercher : 1
Affiliation
  1. Conseil national de recherches du Canada
FormatTexte, Article
ConférenceFrontiers in Ultrafast Optics: Biomedical, Scientific, and Industrial Applications XI, January 23-26, 2011, San Francisco, CA, USA
SujetAttosecond pulse; Beam characteristics; Beam properties; Characterization techniques; Coherent radiation; Diffractograms; Electromagnetic radiation; High harmonic generation; High harmonics; Laser experiments; Molecular levels; Optical reconstruction; Oscillator amplifier; Physical process; Quantum properties; Spatial characterization; Spectral region; Temporal profile; wavefront sensing; X-ray free electron lasers; Xuv radiation; Diffraction patterns; Electromagnetic waves; Electron optics; Free electron lasers; Harmonic analysis; Harmonic generation; Industrial applications; Interferometry; Lasers; Wavefronts
Résumé
Date de publication
Maison d’éditionSPIE
Dans
Série
Langueanglais
Publications évaluées par des pairsOui
Numéro NPARC21276166
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Identificateur de l’enregistrement4646dfa6-c8fd-4da9-a6af-fbe47f82e702
Enregistrement créé2015-09-28
Enregistrement modifié2020-04-21
Date de modification :