Automated defect and correlation length analysis of block copolymer thin film nanopatterns

Par Conseil national de recherches du Canada

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DOITrouver le DOI : https://doi.org/10.1371/journal.pone.0133088
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Affiliation
  1. Conseil national de recherches du Canada. Institut national de nanotechnologie
FormatTexte, Article
Résumé
Date de publication
Maison d’éditionPublic Library of Science
Dans
Langueanglais
Publications évaluées par des pairsOui
Numéro NPARC23000676
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Identificateur de l’enregistrement05a10406-2d39-44a8-8305-fc22b481da81
Enregistrement créé2016-08-22
Enregistrement modifié2020-06-02
Date de modification :