A knife-edge measurement of the beam profile of STXM 5.3.2.2 using a focussed ion beam milled metallic glass

Par Conseil national de recherches du Canada

DOITrouver le DOI : https://doi.org/10.1016/j.elspec.2012.07.003
AuteurRechercher : ; Rechercher : 1; Rechercher : ; Rechercher : ; Rechercher : ; Rechercher : ; Rechercher : 1; Rechercher :
Affiliation
  1. Conseil national de recherches du Canada. Technologies de sécurité et de rupture
FormatTexte, Article
SujetScanning transmission X-ray microscopy (STXM) resolution; Focussed ion beam (FIB) milling; Metallic glass
Résumé
Date de publication
Dans
Langueanglais
Publications évaluées par des pairsOui
IdentificateurS0368204812000758
Numéro NPARC21268740
Exporter la noticeExporter en format RIS
Signaler une correctionSignaler une correction (s'ouvre dans un nouvel onglet)
Identificateur de l’enregistrementf59d1f31-fadc-4bed-8681-af01de2c901e
Enregistrement créé2013-11-12
Enregistrement modifié2020-04-21
Date de modification :