Tip apex shaping of gas field ion sources

Par Conseil national de recherches du Canada

DOITrouver le DOI : https://doi.org/10.1016/j.ultramic.2013.03.013
AuteurRechercher : 1; Rechercher : ; Rechercher : ; Rechercher : 1
Affiliation
  1. Conseil national de recherches du Canada. Institut national de nanotechnologie
FormatTexte, Article
SujetAcceleration effects; Cold field emissions; Emission properties; Field ion microscopy; Gas field ion sources; Helium ion beams; Operating voltage; Single-atom tips; Atoms; Etching; Full width at half maximum; Helium; Ion sources; Gas industry; helium; nitrogen; chemical procedures; electron microscopy; etching process; evaporation; gas field; image analysis; ionization; molecular dynamics; molecular imaging; molecular size; pressure measurement; procedures; single atom tip shaping; surface property
Résumé
Date de publication
Dans
Langueanglais
Publications évaluées par des pairsOui
Numéro NPARC21269938
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Identificateur de l’enregistrementd63008e2-090f-4f90-8f62-65e77a3a8335
Enregistrement créé2013-12-13
Enregistrement modifié2020-04-22
Date de modification :