Structural Characterization of InAs/GaAs and InAs/InP Quantum Dots by Transmission Electron Microscopy

Par Conseil national de recherches du Canada

AuteurRechercher : 1; Rechercher : ; Rechercher : 2; Rechercher : 2; Rechercher : ; Rechercher : 2; Rechercher :
Affiliation
  1. Conseil national de recherches du Canada. Institut des étalons nationaux de mesure du CNRC
  2. Conseil national de recherches du Canada. Institut des sciences des microstructures du CNRC
FormatTexte, Article
ConférenceMaterials Research Society Symposium, 2001
Numéro NPARC12346577
Exporter la noticeExporter en format RIS
Signaler une correctionSignaler une correction (s'ouvre dans un nouvel onglet)
Identificateur de l’enregistrementd18065d4-9724-4415-a479-3870215fea15
Enregistrement créé2009-09-17
Enregistrement modifié2020-04-16
Date de modification :