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High resolution cold field emission scanning electron microscopy of cements

Par Conseil national de recherches du Canada

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AuteurRechercher : 1
Affiliation
  1. Conseil national de recherches du Canada. Institut de recherche en construction du CNRC
FormatTexte, Article
Conférence29th International Cement Microscopy Association Conference, 21 May 2007, Québec City
SujetBéton
Résumé
Cet article traite de l'utilisation du microscope à balayage à champs par émission d'ions (CFE-SEM) pour microscopie du ciment Portland ordinaire et du silicate tricalcique. L'accent est mis tant sur les premières phases de l'hydratation du ciment que sur des échantillons non hydratés. La découverte récente de structures à l'échelle nanométrique formées en fin de période d'induction est également décrite. Les CFE-SEM sont capables de fonctionner à des tensions d'accélération très basses et peuvent ainsi produire des images très magnifiées sans avoir besoin d'enrober les échantillons.
Date de publication
Dans
  • 29th International Cement Microscopy Association Conference [Proceedings] (21 mai 2007) : 472–489.
Langueanglais
Publications évaluées par des pairsOui
Numéro du CNRCNRCC 49476
NRC-IRC-18557
Numéro NPARC20377520
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Identificateur de l’enregistrementb6432284-03d9-4295-b191-1616e72e1361
Enregistrement créé2012-07-24
Enregistrement modifié2020-05-10
Date de modification :