Characterization of Gd2O3 Films Deposited on Si(100) by Electron-Beam Evaporation

Par Conseil national de recherches du Canada

DOITrouver le DOI : https://doi.org/10.1149/1.1337607
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Affiliation
  1. Conseil national de recherches du Canada. Institut des sciences des microstructures du CNRC
  2. Conseil national de recherches du Canada. Institut des étalons nationaux de mesure du CNRC
FormatTexte, Article
Date de publication
Dans
Numéro NPARC12744903
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Identificateur de l’enregistrementb5c72d27-a729-4794-b57a-14f4ddcd49a0
Enregistrement créé2009-10-27
Enregistrement modifié2020-03-27
Date de modification :