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Enhanced birefringence in vacuum evaporated silicon thin films

Par Conseil national de recherches du Canada

DOITrouver le DOI : https://doi.org/10.1364/AO.43.005343
AuteurRechercher : ; Rechercher : 1; Rechercher : ; Rechercher :
Affiliation
  1. Conseil national de recherches du Canada. Institut des sciences des microstructures du CNRC
FormatTexte, Article
Date de publication
Dans
  • Applied Optics 43, nº 28 (2004) : 5343–5349.
Langueanglais
Publications évaluées par des pairsOui
Numéro NPARC12744534
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Identificateur de l’enregistrement9dac7c6e-91ee-4329-87ba-edef012ddd4a
Enregistrement créé2009-10-27
Enregistrement modifié2023-06-22
Date de modification :