Characterization of SiGe multiple quantum wells by spectroscopic ellipsometry and photoluminescence

Par Conseil national de recherches du Canada

DOITrouver le DOI : https://doi.org/10.1016/0040-6090(92)90040-I
AuteurRechercher : 1; Rechercher : 1; Rechercher : 1; Rechercher : 1
Affiliation
  1. Conseil national de recherches du Canada. Institut des étalons nationaux de mesure du CNRC
FormatTexte, Article
ConférenceEuropean Materials Research Society 1992 Sring Conference, Symposium A: SiGe Based Technologies, 2-4 June 1992, Strasbourg, France
Résumé
Date de publication
Dans
Langueanglais
Numéro du CNRCNRC-INMS-1119
Numéro NPARC8897418
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Identificateur de l’enregistrement9d91393b-1d4c-4ba1-96ca-1f887d7872cc
Enregistrement créé2009-04-22
Enregistrement modifié2020-04-24
Date de modification :