Use of electronic speckle pattern interferometry techniques for study of photonic planar waveguide devices
Use of electronic speckle pattern interferometry techniques for study of photonic planar waveguide devices
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Affiliation |
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Format | Texte, Article |
Date de publication | 2005 |
Dans | |
Langue | anglais |
Numéro NPARC | 12744177 |
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Identificateur de l’enregistrement | 9af462ba-9066-4f00-9248-6bf6206fb432 |
Enregistrement créé | 2009-10-27 |
Enregistrement modifié | 2020-04-07 |
- Date de modification :