Surface damage formation during ion-beam thinning of samples for transmission electron microscopy
Surface damage formation during ion-beam thinning of samples for transmission electron microscopy
DOI | Trouver le DOI : https://doi.org/10.1016/S0304-3991(00)00096-6 |
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Format | Texte, Article |
Date de publication | 2001 |
Dans | |
Numéro NPARC | 12743861 |
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Identificateur de l’enregistrement | 986ae842-eb45-4f83-823b-d4ac2d8f8b8e |
Enregistrement créé | 2009-10-27 |
Enregistrement modifié | 2020-03-27 |
- Date de modification :