A UHV deposition/reflectometer system for the deposition and characterization of XUV multilayer mirrors

Par Conseil national de recherches du Canada

AuteurRechercher : 1
Affiliation
  1. Conseil national de recherches du Canada
FormatTexte, Thèse
Maison d’éditionUniversité du Québec, INRS
Langueanglais
Numéro NPARC12339150
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Identificateur de l’enregistrement891973f1-cc4f-49e4-a7e4-3171835f0ef4
Enregistrement créé2009-09-11
Enregistrement modifié2023-03-22
Date de modification :