Residual stress development in UMS TiN coatings
Residual stress development in UMS TiN coatings
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Affiliation |
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Format | Texte, Article |
Conférence | International Conference on Metallurgical Coatings and Thin Films From 5/2/2005 To 5/6/2005, San Diego/ USA |
Sujet | Magnetron Sputtering; Titanium Nitride; Residual Stress; Microstructural Properties; Mechanical Properties |
Condition d’accès |
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Publications évaluées par des pairs | Oui |
Numéro du CNRC | SMPL-2004-0213 |
Numéro NPARC | 8932561 |
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Identificateur de l’enregistrement | 83f4e2ed-ff30-4aed-8a2e-c43aa6963c2a |
Enregistrement créé | 2009-04-23 |
Enregistrement modifié | 2020-04-16 |
- Date de modification :