Temperature dependence of the free-exciton-emission linewidth in high-purity InP

Par Conseil national de recherches du Canada

DOITrouver le DOI : https://doi.org/10.1103/PhysRevB.52.R2273
AuteurRechercher : 1; Rechercher : ; Rechercher : 1; Rechercher : 1; Rechercher : 1
Affiliation
  1. Conseil national de recherches du Canada. Institut des sciences des microstructures du CNRC
FormatTexte, Article
Résumé
Date de publication
Dans
Langueanglais
Numéro NPARC12327160
Exporter la noticeExporter en format RIS
Signaler une correctionSignaler une correction (s'ouvre dans un nouvel onglet)
Identificateur de l’enregistrement7325af0c-1281-44b4-a51f-b026ce884452
Enregistrement créé2009-09-10
Enregistrement modifié2020-04-29
Date de modification :