Energy levels of few-electron quantum dots imaged and characterized by atomic force microscopy

Par Conseil national de recherches du Canada

Téléchargement
  1. (PDF, 2.3 Mio)
DOITrouver le DOI : https://doi.org/10.1073/pnas.0912716107
AuteurRechercher : ; Rechercher : ; Rechercher : ; Rechercher : ; Rechercher : 1; Rechercher : 1; Rechercher : 1; Rechercher :
Affiliation
  1. Conseil national de recherches du Canada. Institut des sciences des microstructures du CNRC
FormatTexte, Article
Sujetnanoelectronics; single-electron charging; shell structure; electrostatic force microscopy
Résumé
Date de publication
Dans
Langueanglais
Publications évaluées par des pairsOui
Numéro NPARC17401041
Exporter la noticeExporter en format RIS
Signaler une correctionSignaler une correction (s'ouvre dans un nouvel onglet)
Identificateur de l’enregistrement7211deb8-99d2-4103-8cdb-4356e22415d1
Enregistrement créé2011-03-29
Enregistrement modifié2020-04-17
Date de modification :