Photodegradation versus hot-electron impact for electrical tree inception at low electric fields
Photodegradation versus hot-electron impact for electrical tree inception at low electric fields
| DOI | Trouver le DOI : https://doi.org/10.1109/ICPADM.1991.172352 |
|---|---|
| Auteur | Rechercher : ; Rechercher : ; Rechercher : ; Rechercher : |
| Commanditaire | Rechercher : IEEE; Rechercher : ICPADM |
| Format | Texte, Article |
| Conférence | Proceedings of the 3rd International Conference on Properties and Applications of Dielectric Materials, July 8-12, 1991, Tokyo, Japan |
| ISBN | 0879425687 |
| Langue | anglais |
| Numéro du CNRC | NRC-INMS-1746 |
| Numéro NPARC | 8897093 |
| Exporter la notice | Exporter en format RIS |
| Signaler une correction | Signaler une correction (s'ouvre dans un nouvel onglet) |
| Identificateur de l’enregistrement | 70a96f9e-bca0-49e3-8a99-ea8731d4657d |
| Enregistrement créé | 2009-04-22 |
| Enregistrement modifié | 2020-04-16 |
- Date de modification :