| Téléchargement | - Voir le manuscrit accepté : Chiral modulations and reorientation effects in MnSi thin films (PDF, 866 Kio)
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| DOI | Trouver le DOI : https://doi.org/10.1103/PhysRevB.85.094429 |
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| Auteur | Rechercher : Karhu, E. A.; Rechercher : Roßler, U. K.; Rechercher : Bogdanov, A. N.; Rechercher : Kahwaji, S.; Rechercher : Kirby, B. J.; Rechercher : Fritzsche, H.1; Rechercher : Robertson, M. D.; Rechercher : Majkrzak, C. F.; Rechercher : Monchesky, T. L. |
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| Affiliation | - Conseil national de recherches du Canada. Centre canadien de faisceaux de neutrons du CNRC
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| Format | Texte, Article |
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| Résumé | We present an experimental and theoretical investigation of the influence of a uniaxial magnetocrystalline anisotropy on the magnetic textures that are formed in a chiral magnetic system. We show that the epitaxially induced tensile stress in MnSi thin films grown on Si(111) creates an easy-plane uniaxial anisotropy. The magnetoelastic shear stress coefficient is derived from SQUID magnetometry measurements in combination with transmission electron microscopy and x-ray diffraction data. Density functional calculations of the magnetoelastic coefficient support the conclusion that the uniaxial anisotropy originates from the magnetoelastic coupling. Theoretical calculations based on a Dzyaloshinskii model that includes an easy-plane anisotropy predict a variety of modulations to the magnetic order that are not observed in bulk MnSi crystals. Evidence for these states is found in the magnetic hysteresis and polarized neutron reflectometry measurements. |
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| Date de publication | 2012-03-27 |
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| Dans | |
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| Langue | anglais |
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| Publications évaluées par des pairs | Oui |
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| Numéro NPARC | 20209244 |
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| Identificateur de l’enregistrement | 6ce36bf6-6720-46f4-a24a-3143893b5a87 |
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| Enregistrement créé | 2012-06-27 |
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| Enregistrement modifié | 2020-04-21 |
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