Repeatability aspects of the multiple stylus/multiple probe positions probe calibration
Repeatability aspects of the multiple stylus/multiple probe positions probe calibration
| Auteur | Rechercher : |
|---|---|
| Commanditaire | Rechercher : ACMC |
| Format | Texte, Article |
| Conférence | First Annual General Meeting : summary of lectures / Association for Coordinate Metrology Canada, November 2-3, 1995, Oshawa, Ontario, Canada |
| Langue | anglais |
| Numéro du CNRC | NRC-INMS-4629 |
| Numéro NPARC | 8899419 |
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| Identificateur de l’enregistrement | 663357fc-b035-4565-ab4c-ccc9ece0019a |
| Enregistrement créé | 2009-04-22 |
| Enregistrement modifié | 2020-04-16 |
- Date de modification :