Electrical-Stress Effects and Device Modeling of 0.18mm RF MOSFETS

Par Conseil national de recherches du Canada

DOITrouver le DOI : https://doi.org/10.1109/TED.2006.870284
AuteurRechercher : ; Rechercher : ; Rechercher : ; Rechercher : ; Rechercher : 1; Rechercher :
Affiliation
  1. Conseil national de recherches du Canada. Institut des sciences des microstructures du CNRC
FormatTexte, Article
Date de publication
Dans
Numéro NPARC12744711
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Identificateur de l’enregistrement5d461c0f-e473-4d8c-91e1-4145689e4d2e
Enregistrement créé2009-10-27
Enregistrement modifié2020-04-22
Date de modification :