Reliability of scanning electron microscopy information

Par Conseil national de recherches du Canada

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DOITrouver le DOI : https://doi.org/10.1016/0008-8846(78)90103-5
AuteurRechercher : 1; Rechercher : 1; Rechercher : 1
Affiliation
  1. Conseil national de recherches du Canada
FormatTexte, Article
SujetBéton; microscope à balayage; microscope électronique; fiabilité; calcul d'erreur
Résumé
Date de publication
Dans
Langueanglais
Publications évaluées par des pairsOui
IdentificateurDBR-P-768
Numéro du CNRCNRCC 16603
NRC-IRC-2844
Numéro NPARC20374138
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Identificateur de l’enregistrement511fd6c3-514f-400f-bdc4-9655ad497aff
Enregistrement créé2012-07-23
Enregistrement modifié2024-03-14
Date de modification :