| Téléchargement | - Voir le manuscrit accepté : Transmission electron microscopy investigation of interfacial reactions between SrFeO3 thin films and silicon substrates (PDF, 7.7 Mio)
|
|---|
| DOI | Trouver le DOI : https://doi.org/10.1557/JMR.2007.0005 |
|---|
| Auteur | Rechercher : Wang, Dashan; Rechercher : Tunney, Jim1; Rechercher : Du, Xiaomei1; Rechercher : Post, Michael1; Rechercher : Gauvin, Raynald |
|---|
| Affiliation | - Conseil national de recherches du Canada. Institut de technologie des procédés chimiques et de l'environnement du CNRC
|
|---|
| Format | Texte, Article |
|---|
| Sujet | interfacial reactions; thin films; silicon substrates; pulsed laser deposition |
|---|
| Date de publication | 2007 |
|---|
| Condition d’accès | |
|---|
| Dans | |
|---|
| Langue | anglais |
|---|
| Publications évaluées par des pairs | Oui |
|---|
| Numéro du CNRC | NRCC 51693 |
|---|
| Numéro NPARC | 9073357 |
|---|
| Exporter la notice | Exporter en format RIS |
|---|
| Signaler une correction | Signaler une correction (s'ouvre dans un nouvel onglet) |
|---|
| Identificateur de l’enregistrement | 428ecab3-f032-48c7-ba88-dba16b5b2765 |
|---|
| Enregistrement créé | 2009-10-03 |
|---|
| Enregistrement modifié | 2020-05-10 |
|---|
