Misfit dislocation injection, interfacial stability and photonic properties of Si-Ge strained layers

Par Conseil national de recherches du Canada

DOITrouver le DOI : https://doi.org/10.1007/BF00125882
AuteurRechercher : 1; Rechercher : 1; Rechercher : 2
Affiliation
  1. Conseil national de recherches du Canada. Institut des sciences des microstructures du CNRC
  2. Conseil national de recherches du Canada. Institut des étalons nationaux de mesure du CNRC
FormatTexte, Article
Résumé
Date de publication
Dans
Langueanglais
Numéro NPARC12338546
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Identificateur de l’enregistrement3d997d96-0a70-43fe-8b60-e5dbb494e798
Enregistrement créé2009-09-10
Enregistrement modifié2020-04-29
Date de modification :