TEM studies of Au/Si epilayer interfaces

Par Conseil national de recherches du Canada

DOITrouver le DOI : https://doi.org/10.1017/S1431927609095658
AuteurRechercher : 1; Rechercher : ; Rechercher : 1; Rechercher : 1; Rechercher : 1; Rechercher :
Affiliation
  1. Conseil national de recherches du Canada. Institut national de nanotechnologie
FormatTexte, Article
ConférenceMicroscopy and Microanalysis 2009, 26-30 July 2009, Richmond, Virginia, USA
Date de publication
Maison d’éditionCambridge University Press
Dans
Langueanglais
Publications évaluées par des pairsOui
Numéro NPARC19739576
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Identificateur de l’enregistrement3baca7a4-50f2-4557-923f-ac2c9708d2b8
Enregistrement créé2012-03-30
Enregistrement modifié2020-04-16
Date de modification :