Properties of InAlP Native Oxides Suorting MOS Inversion-layer Behavior

Auteur	Rechercher : Barrios, P.; Rechercher : Hall, D.; Rechercher : Chowdhury, U.; Rechercher : Dupuis, R.; Rechercher : Jasinski, J.; Rechercher : Liliental-Weber, Z.; Rechercher : Kosel, T.; Rechercher : Snider, G.
Format	Texte, Article
Conférence	43rd Electronic Materials Conference, June 27-29 2001, Notre Dame, Indiana
Numéro NPARC	12346233
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Identificateur de l’enregistrement	280608c4-8784-4d59-930a-f5c74ec9b2d4
Enregistrement créé	2009-09-17
Enregistrement modifié	2020-04-16