Patterson analysis for layer profile determination by neutron or X-ray reflectometry

Par Conseil national de recherches du Canada

DOITrouver le DOI : https://doi.org/10.1107/S0021889812015075
AuteurRechercher : 1
Affiliation
  1. Conseil national de recherches du Canada. Centre canadien de faisceaux de neutrons du CNRC
FormatTexte, Article
Sujetneutron reflectometry; X-ray reflectometry; layer profile determination; Patterson analysis
Résumé
Date de publication
Dans
Langueanglais
Publications évaluées par des pairsOui
Numéro NPARC21268028
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Identificateur de l’enregistrement1a834bae-f4d6-4009-adf4-de0f72c4d48b
Enregistrement créé2013-04-04
Enregistrement modifié2020-04-21
Date de modification :