Patterson analysis for layer profile determination by neutron or X-ray reflectometry
Patterson analysis for layer profile determination by neutron or X-ray reflectometry
DOI | Trouver le DOI : https://doi.org/10.1107/S0021889812015075 |
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Affiliation |
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Format | Texte, Article |
Sujet | neutron reflectometry; X-ray reflectometry; layer profile determination; Patterson analysis |
Résumé | |
Date de publication | 2012-05-04 |
Dans | |
Langue | anglais |
Publications évaluées par des pairs | Oui |
Numéro NPARC | 21268028 |
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Identificateur de l’enregistrement | 1a834bae-f4d6-4009-adf4-de0f72c4d48b |
Enregistrement créé | 2013-04-04 |
Enregistrement modifié | 2020-04-21 |
- Date de modification :