| Téléchargement | - Voir le manuscrit accepté : Silicon-chip-based real-time dispersion monitoring for 640 Gbit/s DPSK signals (PDF, 1.2 Mio)
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| DOI | Trouver le DOI : https://doi.org/10.1109/JLT.2011.2141974 |
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| Auteur | Rechercher : Vo, Trung D.; Rechercher : Corcoran, Bill; Rechercher : Schroder, Jochen; Rechercher : Pelusi, Mark D.; Rechercher : Xu, Dan-Xia1; Rechercher : Densmore, Adam1; Rechercher : Ma, Rubin1; Rechercher : Janz, Siegfried1; Rechercher : Moss, David J.; Rechercher : Eggleton, Benjamin |
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| Affiliation | - Conseil national de recherches du Canada. Institut des sciences des microstructures du CNRC
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| Format | Texte, Article |
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| Sujet | nonlinear optics; optical performance monitoring (OPM); optical planar waveguides; optical signal processing; spectral analysis |
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| Résumé | We demonstrate silicon-chip-based instantaneous chromatic dispersion monitoring (GVD) for an ultrahigh bandwidth 640 Gbit/s differential phase-shift keying (DPSK) signal. This monitoring scheme is based on cross-phase modulation in a highly nonlinear silicon nanowire. We show that two-photon absorption and free-carrier-related effects do not compromise the GVD monitoring performance, making our scheme a reliable on-chip CMOS-compatible, all-optical, and real-time impairment monitoring approach for up to Terabit/s DPSK signals. |
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| Date de publication | 2011-06-03 |
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| Dans | |
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| Langue | anglais |
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| Publications évaluées par des pairs | Oui |
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| Numéro NPARC | 19577557 |
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| Identificateur de l’enregistrement | 0f068f69-b397-49dc-8f20-ed96f7d4ae68 |
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| Enregistrement créé | 2012-02-29 |
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| Enregistrement modifié | 2020-04-21 |
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