Developments in metrology in support of nanotechnology

Par Conseil national de recherches du Canada

DOITrouver le DOI : https://doi.org/10.1007/978-3-642-00980-8_8
AuteurRechercher : 1; Rechercher : 2; Rechercher : 1; Rechercher : 2; Rechercher : 3; Rechercher : 2; Rechercher : 4; Rechercher : 4; Rechercher : 1; Rechercher : 2; Rechercher : 3
Affiliation
  1. Conseil national de recherches du Canada. Institut des étalons nationaux de mesure du CNRC
  2. Conseil national de recherches du Canada. Institut des sciences des microstructures du CNRC
  3. Conseil national de recherches du Canada. Institut Steacie des sciences moléculaires du CNRC
  4. Conseil national de recherches du Canada. Institut national de nanotechnologie
FormatTexte, Article
Conférence3rd International Symposium on Nanotechnology in Construction (NICOM 3), May 31 to June 2, 2009, Prague, Czech Republic
Sujetnanotechnology; metrological; scanning-probe; calibration; nanoscale
Résumé
Date de publication
Dans
Langueanglais
Publications évaluées par des pairsOui
Numéro NPARC16080385
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Identificateur de l’enregistrement0e08f96b-a000-4710-a4d8-5d8ce8b679ef
Enregistrement créé2010-09-21
Enregistrement modifié2020-04-16
Date de modification :