Applications of high-field asymmetric waveform ion mobility spectrometry for the certification of reference materials
Applications of high-field asymmetric waveform ion mobility spectrometry for the certification of reference materials
Auteur | Rechercher : ; Rechercher : Identifiant ORCID : https://orcid.org/0000-0002-2377-2615; Rechercher : |
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Commanditaire | Rechercher : NCSL International; Rechercher : NCSLI |
Format | Texte, Article |
Conférence | NCSL International 2006 Workshop and Symposium : metrology's impact on society : conference proceedings, August 6-10, 2006, Nashville, Tennessee, USA |
Description physique | 9 p. |
Langue | anglais |
Publications évaluées par des pairs | Oui |
Numéro du CNRC | NRC-INMS-3773 |
Numéro NPARC | 8899634 |
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Identificateur de l’enregistrement | 0c0cdf11-d751-47d6-aeef-4d6870870004 |
Enregistrement créé | 2009-04-22 |
Enregistrement modifié | 2020-04-16 |
- Date de modification :