Hot-carrier stressing of NPN polysilicon emitter bipolar transistors incorporating fluorine
Hot-carrier stressing of NPN polysilicon emitter bipolar transistors incorporating fluorine
DOI | Trouver le DOI : https://doi.org/10.1109/TED.2003.812502 |
---|---|
Auteur | Rechercher : ; Rechercher : 1; Rechercher : 1; Rechercher : 1; Rechercher : ; Rechercher : |
Affiliation |
|
Format | Texte, Article |
Date de publication | 2003 |
Dans | |
Numéro NPARC | 12744782 |
Exporter la notice | Exporter en format RIS |
Signaler une correction | Signaler une correction (s'ouvre dans un nouvel onglet) |
Identificateur de l’enregistrement | 0a2eee07-2099-45b3-bf47-8dc01c37729a |
Enregistrement créé | 2009-10-27 |
Enregistrement modifié | 2020-04-02 |
- Date de modification :